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Raster-Elektronenmikroskopie
L Reimer
L Reimer
Detalles del libro
| Editorial | Springer |
|---|---|
| Edición | 2., neubearb. u. erw. Aufl.(01/06/1977) | Páginas | 300 |
| Idioma | Alemán |
| ISBN | 9783540081548 |
| ISBN-10 | 3540081542 |
Detalles del libro
| Autor/es | L Reimer |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Edición | 2., neubearb. u. erw. Aufl.(01/06/1977) | Páginas | 300 |
| Idioma | Alemán |
| ISBN | 9783540081548 |
| ISBN-10 | 3540081542 |
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- Juan Ramón Castillo Suárez
- 133 páginas
Otra información de interés
- Portada: Raster-Elektronenmikroskopie de Springer
- Editorial: Springer | 01/06/1977
- Sinopsis:
El autor de Raster-Elektronenmikroskopie, con isbn 978-3-540-08154-8, es L Reimer, esta publicación tiene trescientas páginas.
Resumen